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首頁-產(chǎn)品系統(tǒng)-環(huán)境檢測(cè)設(shè)備-高純鍺-KR-GEM-S7030-LB-C高純鍺探測(cè)器系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào):KR-GEM-S7030-LB-C
簡(jiǎn)要描述:高純鍺探測(cè)器系統(tǒng)GEM-S7030-LB-C?能量范圍:3keV~3MeV?晶體尺寸:直接≥68mm,厚度≥30mm?端窗直徑:83mm?相對(duì)效率:≥28%(典型值)?峰康比:40:1?能量分辨率:≤0.45KeV @5.9KeV; ≤0.55KeV @14.4KeV; ≤0.7KeV@122KeV; ≤1.9KeV@1.332MeV ?峰形比(典型值):FW.1M/FWHM
廠家實(shí)力
Manufacturer Strength有效保修
Valid Warranty質(zhì)量保障
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高純鍺探測(cè)器系統(tǒng)KR-GEM-S7030-LB-C
高純鍺探測(cè)器系統(tǒng)
高純鍺探測(cè)器GEM-S7030-LB-C
l 能量范圍:3keV~3MeV
l 晶體尺寸:直接≥68mm,厚度≥30mm
l 端窗直徑:83mm
l 相對(duì)效率:≥28%(典型值)
l 峰康比:40:1
l 能量分辨率:≤0.45KeV @5.9KeV; ≤0.55KeV @14.4KeV; ≤0.7KeV@122KeV; ≤1.9KeV@1.332MeV
l 峰形比(典型值):FW.1M/FWHM(典型值):≤2.0
l FW.2M/FWHM(典型值):≤2.9
l 超低本底碳纖維整體封裝,實(shí)物如右圖
液氮回凝制冷器 KR-MOBIUS
l 液氮回凝制冷,設(shè)備啟動(dòng)時(shí)壓縮機(jī)冷卻揮發(fā)的液氮,保持罐內(nèi)液氮的長(zhǎng)期平衡;
l 壓縮機(jī)壽命大于20萬小時(shí)
l 27L液氮罐
l 在探測(cè)器?處于冷卻狀態(tài)后,液氮罐充滿的狀態(tài)下,可保證730天或更長(zhǎng)的時(shí)間不需要充加液氮。(運(yùn)行過程中未出現(xiàn)斷電情況)
l 自帶感應(yīng)與控制元件,以文字或數(shù)字形式顯示如下信息:是否在液氮循環(huán)狀態(tài);當(dāng)前液氮水平;系統(tǒng)運(yùn)行功率水平
l 配備安全泄壓閥,保證設(shè)備不會(huì)因斷電導(dǎo)致壓力過高而導(dǎo)致危險(xiǎn)
l 制冷器關(guān)閉情況下,液氮損失速度小于3L/天
l 壓縮機(jī)功率典型值125瓦
l 噪聲:1m處小于60分貝
雙通道數(shù)字化譜儀 GR-DSPEC 50
l 雙路全數(shù)字化多道分析器,儀器可以脫機(jī)運(yùn)行,當(dāng)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)異常死機(jī)或斷電時(shí),測(cè)量可以繼續(xù)進(jìn)行,測(cè)量數(shù)據(jù)可保存到γ譜儀測(cè)量系統(tǒng)中,當(dāng)設(shè)備再次連接上計(jì)算機(jī)時(shí),譜線數(shù)據(jù)和粒子數(shù)可據(jù)恢復(fù)傳輸至計(jì)算機(jī),保證測(cè)量數(shù)據(jù)不丟失
l 最大數(shù)據(jù)通過率:大于100kcps;
l 具有低頻噪聲抑制、數(shù)字化穩(wěn)譜、脈沖抗堆積、自動(dòng)優(yōu)化、自動(dòng)極零、零死時(shí)間校正和虛擬示波器等功能;
l 成型時(shí)間參數(shù)內(nèi)置可調(diào),平頂時(shí)間參數(shù)一鍵自動(dòng)優(yōu)化調(diào)節(jié)
l 大屏幕彩色液晶可以連續(xù)顯示狀態(tài)和譜圖信息;同時(shí)提供USB2.0和以太接口;
l 系統(tǒng)變換增益(存儲(chǔ)器分段):由計(jì)算機(jī)選擇為65536,32768,16,384,8192,4096,2048,1024或512道;
l 譜儀能夠接入多種高純鍺探測(cè)器的前放類型,包括復(fù)位型前放及RC連續(xù)放電型前放
l 自動(dòng)極零,優(yōu)秀的死時(shí)間修正能?,正確的處理計(jì)數(shù)率快速變化的應(yīng)?情況
l 譜儀帶有數(shù)字符合/反符合通道,保留γ譜儀系統(tǒng)的后續(xù)升級(jí)反康普頓與反宇宙射線功能
中文譜分析軟件 GMMA
l 64位解譜軟件,與Windows平臺(tái)兼容
l 涵蓋譜獲取、分析、報(bào)告與質(zhì)保程序;樣品信息可編輯輸入,一次安裝即可實(shí)現(xiàn)所有功能,可以自動(dòng)或手工操作進(jìn)行剝譜,以正確地對(duì)多核素間干擾進(jìn)行校正
無源效率刻度軟件 KR-ANGLE
l 軟件語言可選:中、英
l 自帶探測(cè)器自帶表征文件;廠家提供出廠前的點(diǎn)源基準(zhǔn)效率曲線,支持用戶自形用多核素點(diǎn)源、體源、馬林杯等表征修正
l 軟件算法:采用總效率算法,包括沉積校正,并進(jìn)行自動(dòng)刻度計(jì)數(shù)
配套提供探測(cè)器詳細(xì)晶體結(jié)構(gòu)圖,包含探測(cè)器死層厚度、內(nèi)部封裝極材等用于長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行后自行無源效率計(jì)算修正;支持客戶現(xiàn)場(chǎng)自行修正計(jì)算;
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型號(hào):KR-GEM-S7030-LB-C
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021-20989890
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